IV曲线量测仪销售价格 上海IV曲线量测仪供应商 丰竹供
集成电路失效分析流程中，I/V CURVE的量测往往是非破坏分析的第二步，可见curve量测的重要性。随着器件的pin脚数越来越多，传统的curve tracer(多为手动)没有办法满足时效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的满足了客户的需求，尤其是在BGA等通讯产品方面，具备安捷伦B1500和keithely4200无可比拟的便利性。
I/V曲线追踪仪（Curve Tracer）提供半导体电子组件特性量测、 电性故障分析量测（EFA ,Electrical Failure Analysis）及曲线绘 图（ I V - C U R V R ） 。针对多p i n 脚I C ， 可迅速完成测试。 Open/Short Test，使用 I/V Curce Tracer 量测，很适用于客退 品的快速分析，可以简单迅速确认芯片状态，是短路还是开路。 测量封装后芯片的I/V曲线，可以通过好坏样品的曲线对比确认芯 片的漏电情况，可帮助确认EMMI或Delayer等后续操作的方案， 以便快速的找到异常位置，为FA电性测试分析的头一步骤。快速 筛选大量 IC 在电性功能上的好与坏（良品与不良品）。
主要功能：
1. 高分辨率之I/V量测范围,Voltage Measure Range可达 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可达1uA ~ 1A，且测试Channel可从 64 pin逐步扩充至Max.4096 pin，以满足客户多元化之产品测试需求。
2. 机台主要测试功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏电) Test可协助客户解决其产品在DC Fail之电性分析，并节省客户上Functional Tester 之借机成本及时间。
3.采用电脑化控制的操作系统，比传统的Curve Tracer更易于量取I/V data 及产生格式化的report。
4.Windows的操作系统，易学易懂，而所建立的Device之Pin Assignment 可储存在电脑中，未来可重复被使用，比传统的Switching Matrix更便利省时。
5.机台可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏电分析。
6.机台本身除了可作产品的失效分析外，还可结合Auto Handler，做Mass Production之Open/Short Test，可谓一机多用。